微米和纳米科技材料

新方案可预测太空集成微电路故障

新方案可预测太空集成微电路故障

新方案可预测太空集成微电路故障

俄国立核能研究大学“莫斯科理工学院”微电子和纳米电子部门的工作人员提出了一种新的技术方案,可以处理地面实验的结果,并计算出故障发生的频率,能对最新设计的现代纳米集成电路进行预测,从而有效避免其在太空中的多种故障。

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